此测试卡有两种结构，一种一层结构，另一种是两层结构。一层结构中，黑点的光学密度为4.5，图像测试卡，透过率为 0.000316， 二层结构黑点的光学密度为9，透过率为0.000000001 。
此测试卡与均匀透射背光光源配合使用，拍摄时需要在全黑的暗室中， 在测试卡表面不能有环境光带来的反射，图像测试卡，会影响分析数据。
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西门子之星：分辨率测试卡ye0133由具有36个扇区的西门子星形组成， 垂直和水平网格布置在测试卡的边缘。 栅格在右上和左下方的顶部具有0.625lp / mm的分辨率，并且在顶部左和右下方具有1.25lp / mm的分辨率。
测试卡被布置在具有---敏感等级影印相纸上。照相纸具有自黏合膜。另外测试卡是固定在厚2毫米的卡片上。这种测试网格为---机、镜头、缩微胶片和扩大设备的光学系统图形检测提供依据。
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对于高动态范围---机，oecf测试卡根据iso 14524计算的结果并不令人信服。根据立方根公式计算密度，导致高密度灰阶块中的跨度较大。 image engineering针对这个问题的解决方案是te269，这是一个36阶的oecf测试卡，基本上遵循iso 14524，但是增加了额外的灰阶，图像测试卡公司，---是在更高的密度水平。
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te269透射式测试卡可以使用基于iq-led的照明设备le7进行照明。
该分析在image engineering iq----yzer软件中实现。例如，它提供以下结果：oecf，动态范围，snr，噪声，图像测试卡报价，时间噪声，视觉噪声
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